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x射線熒光鍍層測厚儀說明書

2019/10/06 19:40:40 來源:江蘇天瑞儀器股份有限公司 >> 進入該公司展臺 已瀏覽:

x射線熒光鍍層測厚儀說明書產品介紹

X熒光測厚儀Thick800A是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀,使用大鈹窗超薄窗口高分辨率的SDD探測器,其探測器分辨率*低為139eV,處于國際*水平;X熒光鍍層測厚儀Thick800A是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀,使用大鈹窗超薄窗口高分辨率的SDD探測器,其探測器分辨率*低為139eV,處于國際*水平;

熒光x射線測厚儀知名制造企業

X熒光鍍層測厚儀,對這一類鍍層測厚儀你有了解嗎?它也是天瑞儀器鍍層測厚儀中的一種,與Think600鍍層測厚儀具有不同的功能,就讓小編帶大家來認識一下X熒光鍍層測厚儀Thick800AX。
 X熒光鍍層測厚儀Thick800A是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀,使用大鈹窗超薄窗口高分辨率的SDD探測器,其探測器分辨率*低為139eV,處于國際*水平;產品采用上照式設計,多重防輻射保護裝置以及X射線發生器,使輻射劑量符合國際規定;樣品觀察系統采用CCD攝像頭、數字多道分析器、激光定位以及自主研發的專用測厚分析軟件,各項指標均符合相關技術要求,技術達國際*水平。
 該款鍍層儀器專為電子半導體、五金電鍍、印刷線路板、首飾手表、檢測機構等行業量身打造的*儀器。XYZ三個可調節方向、全方位的樣品觀察系統和激光定位使得檢測更方便。超大的測試內部空間,良好的散熱效果和抗電磁干擾能力,模塊化的結構設計使安裝、調試、維護更方便,可適應惡劣工作環境。

熒光x射線測厚儀知名制造企業

鍍層測厚儀是一種使用正比計數盒和電制冷探測器的儀器,但在測量精度值上仍存在著誤差,以下就由小編向大家做一些對鍍層測厚儀測量精度值的影響因素的相關說明。
一、基體金屬磁性質:磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應用中,低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準;亦可用待涂覆試件進行校準。
二、基體金屬電性質:基體金屬的電導率對測量有影響,而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關。使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準。
三、基體金屬厚度:每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度,測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。
四、邊緣效應:本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處進行測量是不可靠的。
五、曲率:試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此,在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
六、試件的變形:測頭會使軟覆蓋層試件變形,因此在這些試件上測出可靠的數據。
七、表面粗糙度:基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大,影響增大。粗糙表面會引起系統誤差和偶然誤差,每次測量時,在不同位置上應增加測量的次數,以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙,還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點;或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后,再校對儀器的零點。
八、磁場:周圍各種電氣設備所產生的強磁場,會嚴重地干擾磁性法測厚工作。
九、附著物質:本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感,因此,必須清除附著物質,以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。
十、測頭壓力:測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數,因此,要保持壓力恒定。
十一、測頭的取向:測頭的放置方式對測量有影響。在測量中,應當使測頭與試樣表面保持垂直。
儀器介紹
 X熒光鍍層測厚儀Thick800A是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀,使用大鈹窗超薄窗口高分辨率的SDD探測器,其探測器分辨率*低為139eV,處于國際*水平;產品采用上照式設計,多重防輻射保護裝置以及X射線發生器,使輻射劑量符合國際規定;樣品觀察系統采用CCD攝像頭、數字多道分析器、激光定位以及自主研發的專用測厚分析軟件,各項指標均符合相關技術要求,技術達國際*水平。
優點簡述
 該款鍍層儀器專為電子半導體、五金電鍍、印刷線路板、首飾手表、檢測機構等行業量身打造的*儀器。XYZ三個可調節方向、全方位的樣品觀察系統和激光定位使得檢測更方便。超大的測試內部空間,良好的散熱效果和抗電磁干擾能力,模塊化的結構設計使安裝、調試、維護更方便,可適應惡劣工作環境

熒光x射線測厚儀知名制造企業

電鍍適用范圍
鐵基----□Fe/Zn, □Fe/Cu,□Fe/Ni,□Fe/Cu/Sn,□Fe/Cu/Au,□Fe/Cu/Ni, □Fe/Cu/Ni/Cr, □Fe/Cu/Ni/Au,□Fe/Cu/Ni/Ag
銅基-----□Cu/Ni,□Cu/Ag,□Cu/Au,□Cu/Sn,□Cu/Ni/Sn,□Cu/Ni/Ag,□Cu/Ni/Au,□Cu/Ni/Cr
鋅基-----□Zn/Cu,□Zn/Cu/Ag,□Zn/Cu/Au
鎂鋁合金----□Al/Cu,□Al/Ni,□Al/Cu/Ag,□Al/Cu/Au
塑膠基體----plastic/Cu/Ni,plastic/Cu/Ni/Cr
測量標準
1國標GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000
 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量X射線光譜方法
2.美國標準A754/A754M-08
Coating Weight(mass)of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
應用優勢
1 快速:一般測量一個樣品只需要10S~60S,樣品可不處理或進行簡單處理;
2 無損:物理測量,不改變樣品性質;
3 準確:對樣品可以分析;
4 直觀:直觀的分析譜圖,元素分布一幕了然,定性分析速度快;
5 環保:檢測過程中不產生任何廢氣、廢水。
性能特點
滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可定位測試點,重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑,確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺,鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加*
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護

熒光x射線測厚儀知名制造企業

熒光x射線測厚儀知名制造企業

技術指標
儀器:X熒光測厚儀
型號:Thick 800A
 外型尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
 樣品室尺寸: 500(W)×350(D)×140(H) mm
 樣品臺尺寸: 230(W)×210(D)mm
 Z軸升降平臺升降范圍: 0~140mm
 平臺移動測量范圍 : 50mm(W)×500mm(D)×135mm(H)
分析方法: FP與EC法兼容能量色散X熒光分析方法
測量元素范圍 :原子序數為16S~92U之間的元素均可測量
同時檢測元素 一次可同時分析*多24個元素,五層鍍層
檢出限 :金屬鍍層分析*薄可達0.005μm
厚度范圍:分析鍍層厚度一般在50μm以內(每種材料有所不同)
穩定性: 多次測量重復性可達1%

熒光x射線測厚儀知名制造企業

檢測時間 :30-60秒
探測器及分辨率 :25mm2Be窗口SDD探測器,分辨率140±5eV
激發源: 50KV/1000uA-W靶X光管及高壓電源
多道分析器 : DMCA數字多道分析技術,分析道數4096道
準直器和濾光片 固定Ф0.2mm準直器,可選配其他孔徑,Al濾光片
定位 :平臺電機重復定位精度小于0.1um
樣品觀察: 配備CCD多彩攝像頭,圖像放大可達40倍,實現微小樣品清晰定位。
平臺穩定性 :Z軸測試平臺采用恒力彈簧平衡重力

熒光x射線測厚儀知名制造企業

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